序号 | 技术要求内容 | 评分等级 | 是否星号条款 | 是否需要附件说明 |
1 |
1、主机参数:★1.工作频率≥400GHz,工作带宽≥15GHz;裸片外形尺寸,长:4mm(±0.1mm),宽:3mm(±0.1mm);等效辐射功率≥10dBm;
| 非常重要 | 是 | 是 |
2 |
▲2.晶体管截止频率≥230GHz;
| 非常重要 | 否 | 是 |
3 |
▲3.相位噪声≤-100dBc/Hz@1MHz;
| 非常重要 | 否 | 是 |
4 |
4.核心电压≥1V,I/O电压≥1.8V;
| 重要
| 否 | 是 |
5 |
5.直流功耗≤500mW;
| 重要
| 否 | 是 |
6 |
6.直流到太赫兹转换效率≥1%;
| 重要
| 否 | 是 |
7 |
7.提供设计工艺库数据(为太赫兹芯片提供基本的工艺设计支持) ;
| 重要
| 否 | 否 |
8 |
8.提供备用独立供电单元(为敏感模块(如低噪声放大器、混频器)提供独立电源网络,避免数字噪声通过共地/共电源耦合) ;
| 重要
| 否 | 否 |
9 |
9.提供数字逻辑设计的标准单元库(支持太赫兹系统控制逻辑) ;
| 重要
| 否 | 否 |
10 |
10最大输出功率≥+20dBm,最大输入功率≥+15dBm;
| 重要
| 否 | 是 |
11 |
11.可支持的连续输出波形时间≥30分钟;
| 重要
| 否 | 是 |
12 |
12.高稳定频率源频率精度≤5×10^-8;
| 重要
| 否 | 是 |
13 |
13.具备远程控制接口,能够实现对系统的所有控制,显示主要的参数状态,可通过以太网将生成的输出信号以数据文件形式读出;
| 重要
| 否 | 否 |
14 |
14.协助完成芯片功能测试包括静态、动态测试,如电流/电压相关测试,矢网相关测试等。具体有:①采用矢量网络分析仪进行矢量分析测试,具有4端口,内置低杂散和低相位噪声的两个DDS信号源,主要用来测试器件的传输特性和反射特性的参数。表征被测芯片的射频性能/小信号参数:a)输入输出匹配特性,S参数;b)噪声性能,输入灵敏度、1dB压缩点、三阶互调点、相位噪声;c)大信号分析,最大输出信号,饱和信号以及效率等。②采用实时示波器进行时域信号的波形分析,表征被测芯片的时域特性和瞬时分析,进行芯片信号的完整性分析,包括信号幅度、频率、周期、相位、上升/下降时间、边沿抖动等;同时利用仪器嵌入的频域分析组件进行快速的频域特性表征,进行信号频谱分析,包括串扰分析、谐波失真等。
| 重要
| 否 | 否 |